3.2 Ertasten einzelner Atome
im 'Nicht-Kontakt-Modus'

Ertasten einzelner Atome im 'Nicht-Kontakt-Modus' Inhaltsverzeichnis Rasterkapazitätsmikroskop

3.5 Rasterkapazitätsmikroskop

3.3 Tapping-Mode

Insbesondere zur Untersuchung von Elastizität und Adhäsion eines Materials wird der sogenannte "Tapping-Mode" verwendet, bei dem die

schwingende Sonde die Oberfläche bei jeder Schwingung leicht berührt.

3.4 Magnetkraftmikroskop (MFM, engl.: magnetic force microscope)

Ein Magnetkraftmikroskop ist ein Rasterkraftmikroskop mit einer magnetischen Sonde. Mit dieser Anordnung lassen sich Magnetfelder erkennen, die kleiner sind, als ein zehntausendstel Millimeter. Einzelne Atome sind mit dem Magnetkraftmikroskop nicht zu erkennen, da die magnetischen Kräfte eine zu große

Reichweite haben. Die magnetische Sonde spürt daher grundsätzlich mehrere Atome gleichzeitig.

Da stromführende elektrische Leitungen von einem Magnetfeld umgeben sind, wird auch versucht, das Magnetkraftmikroskop zur Messung von Stromstärken auf den winzigen Leitern von Computerchips zu verwenden.

Aufnahme der Oberfläche eines Magnetischen Datenspeichers mit einem Magnetkraftmikroskop. Ausschnitt links 50 x50 Mikrometer, rechts 5x5 Mikrometer.

3.2 Ertasten einzelner Atome
im 'Nicht-Kontakt-Modus'

Ertasten einzelner Atome im 'Nicht-Kontakt-Modus' Inhaltsverzeichnis Rasterkapazitätsmikroskop

3.5 Rasterkapazitätsmikroskop

© Klaus Schoepe 2003